この技術雑談では、ゲート・ドライバに関連する Commode Mode Transient Immunity と、窒化ガリウム（GaN）または炭化ケイ素（SiC）パワー半導体と統合されたコンバータに必要な最小ゲート・ドライバ CMTI について説明します。CM過渡現象は、ゲート・ドライバのタイミングと性能に影響を与えます。不正確なゲート信号は、コンバータの誤動作や故障の原因となります。CMTIが十分に高い適切なゲート・ドライバを選択することは、GaNまたはSiCコンバータの性能向上を意味します。
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