PE42448:适用于5G波束成形的低损耗、高线性度解决方案

采用UltraCMOS+ SOI技术,专为混合模拟架构优化
UltraCMOS+™ SP4T 射频开关 – pSemi 出品的 PE42448

UltraCMOS+™ SP4T 射频开关 – pSemi 出品的 PE42448

探索 pSemi最新推出的UltraCMOS+™ SP4T射频开关,具备低插入损耗、高隔离度、卓越线性度及快速建立时间,实现高效射频信号路由。

pSemi

PE42448  来自pSemi

PE42448 是一款采用HaRP™技术增强的SP4T射频开关,支持10 MHz至6 GHz的频率范围。该器件具备极低的插入损耗、高线性度及高输入功率处理能力,使其成为混合模拟波束成形和5G大规模MIMO(多输入多输出)应用的理想选择。 若射频端口无直流电压,则无需阻隔电容。PE42448采用pSemi专利的UltraCMOS+工艺制造,该工艺是硅绝缘体(SOI)技术的先进形态。

主要功能

  • 插入损耗低:
    • 2.6 GHz时典型值为0.42 dB
    • 典型值为3.8 GHz时0.6 dB
  • 高线性度 IIP3:88.5 dBm
  • 高功率处理能力:39.5 dBm 均方根功率,11 dBm 峰均功率比
  • +115 °C 工作温度
  • 封装:20引脚 4×4毫米 LGA

功能图

应用

  • 模拟混合波束成形射频前端
  • 5G大规模MIMO有源天线系统(AAS)
  • 4G/4.5G TD-LTE 宏基站/微基站/远程射频头

规格

描述
UltraCMOS+™ SP4T 射频开关
最小频率
10兆赫
最大频率
6 GHz
最大典型输入电平(dB)
3.0
最小典型值 IL (dB)
0.25
最大典型等效声压级 (dB)
45.0
最小典型等效声压级 (dB)
16.0
P1dB/P0.1dB (dBm)
50.5
IIP3(分贝毫瓦)
88.5 dBm
最大功率额定值(dBm)
39.5
最高温度(摄氏度)
+115 °C
VDD 范围 (V)
4.5–5.5
切换时间
3.0 微秒
静电放电(ESD)高带宽模组(V)
1500
包装(毫米)
4×4
包装
20升 LGA

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